國產(chǎn)手機(jī)自研芯片體系——包括手機(jī)SoC（如麒麟系列）、服務(wù)器芯片（如鯤鵬）、AI加速芯片（如昇騰Ascend）——不僅是產(chǎn)品競爭力的**，更是中國半導(dǎo)體自主可控的戰(zhàn)略支點。這些芯片高度集成、性能***、功耗敏感，對測試設(shè)備的全面性、精度、效率和靈活性提出前所未有的挑戰(zhàn)。國磊GT600SoC測試機(jī)，正是為這類**國產(chǎn)芯片量身打造的“全能考官”。國磊GT600不僅能驗證手機(jī)SoC的CPU/GPU的基礎(chǔ)邏輯功能，更能通過可選配的AWG（任意波形發(fā)生器），模擬真實世界的模擬信號，精細(xì)測試ISP圖像處理單元對攝像頭輸入信號的響應(yīng)質(zhì)量，確保拍照清晰、色彩準(zhǔn)確；通過高精度TMU（時間測量單元，精度達(dá)10ps），驗證5G基帶芯片的信號時序與抖動，保障通信穩(wěn)定低延遲；通過每通道PPMU，檢測NPU在待機(jī)與高負(fù)載下的微小漏電流，確保AI算力強(qiáng)勁的同時功耗可控。 堅持創(chuàng)新，持續(xù)為客戶創(chuàng)造價值是我們的價值觀。杭州國磊SIR測試系統(tǒng)價位

適配多元化國產(chǎn)芯片架構(gòu) 中國芯片產(chǎn)業(yè)呈現(xiàn)百花齊放態(tài)勢：RISC-V CPU、存算一體AI芯片、光子集成芯片、量子控制SoC等新型架構(gòu)層出不窮。這些芯片往往具有非標(biāo)I/O、特殊電源域或混合信號需求。國磊（Guolei）GT600的16個通用插槽、多種VI浮動電源板卡（如-2.5V~7V）、每引腳PPMU及可選配的高精度模擬板卡，使其能靈活適配各類異構(gòu)芯片的測試需求，避免因測試平臺僵化而制約創(chuàng)新芯片的發(fā)展，從而維護(hù)技術(shù)路線的多樣性與供應(yīng)鏈的抗風(fēng)險能力。保障關(guān)鍵領(lǐng)域芯片供應(yīng)** 在**、航空航天、智能電網(wǎng)、軌道交通、新能源汽車等關(guān)乎國計民生的關(guān)鍵領(lǐng)域，芯片供應(yīng)鏈**直接關(guān)系**。國磊（Guolei）GT600已應(yīng)用于**AD/DA、顯示驅(qū)動、MCU等芯片測試，未來可進(jìn)一步拓展至**加密芯片、高可靠通信芯片等領(lǐng)域。通過部署國產(chǎn)測試設(shè)備，這些敏感芯片的測試數(shù)據(jù)、良率信息、失效模式等**知識產(chǎn)權(quán)得以保留在境內(nèi)，杜絕信息泄露風(fēng)險。杭州國磊絕緣電阻測試系統(tǒng)研發(fā)長時間穩(wěn)定運(yùn)行，支持1–1000小時持續(xù)測試，可靠性高。

手機(jī)SoC的“全能考官” 現(xiàn)代手機(jī)SoC（如麒麟、澎湃）是高度集成的“微型超級計算機(jī)”，融合CPU、GPU、NPU、ISP、基帶等數(shù)十個模塊。杭州國磊GT600憑借512通道與16個通用插槽，可靈活配置數(shù)字、模擬、混合信號測試資源，實現(xiàn)“一機(jī)通測”。其高速數(shù)字通道驗證CPU/GPU邏輯功能；可選AWG板卡生成圖像信號，測試ISP的色彩還原與降噪能力；TMU精確測量基帶信號時序，保障5G通信穩(wěn)定。PPMU則檢測NPU待機(jī)功耗，確保AI功能“強(qiáng)勁且省電”。128M向量深度支持長周期AI算法驗證，避免測試中斷。杭州國磊GT600以“全功能、高精度、高效率”的測試能力，為國產(chǎn)手機(jī)SoC從研發(fā)到量產(chǎn)保駕護(hù)航，讓中國芯在**手機(jī)市場更具競爭力。

5G/6G通信芯片的“時序顯微鏡” 5G/6G基站與終端芯片對信號時序精度要求極高，微小抖動即可導(dǎo)致通信中斷。杭州國磊GT600配備高精度TMU（時間測量單元），分辨率高達(dá)10ps（0.01納秒），相當(dāng)于光在3毫米內(nèi)傳播的時間，能精細(xì)捕捉高速信號邊沿的微小偏移。這一能力對于驗證基帶芯片、射頻前端、AD/DA轉(zhuǎn)換器的時序一致性至關(guān)重要。杭州國磊GT600還可通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試芯片在復(fù)雜調(diào)制模式下的響應(yīng)性能。其400MHz測試速率與100ps邊沿精度，確保能覆蓋PCIe、USB、MIPI等高速接口的協(xié)議測試需求。在通信技術(shù)快速迭代的背景下，杭州國磊GT600以“皮秒級”測量能力，為國產(chǎn)通信芯片的性能與穩(wěn)定性提供精細(xì)驗證，助力中國在6G賽道**占先機(jī)。國磊GT600SoC測試機(jī)可通過配置相應(yīng)板卡和開發(fā)測試程序?qū)崿F(xiàn)SoC全測試。

AI芯片在推理或訓(xùn)練突發(fā)負(fù)載下，電流可在微秒級劇烈波動，易引發(fā)電壓塌陷（VoltageDroop）。國磊GT600SoC測試機(jī)支持高采樣率動態(tài)電流監(jiān)測，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流（InrushCurrent）與工作過程中的瞬態(tài)功耗波形，幫助設(shè)計團(tuán)隊優(yōu)化去耦電容布局與電源完整性（PI）設(shè)計。其128M向量響應(yīng)存儲深度支持長時間功耗行為記錄，用于分析AI工作負(fù)載的能耗模式。現(xiàn)代AISoC集成CPU、NPU、HBM、SerDes等模塊，引腳數(shù)常超2000。國磊GT600支持**2048個數(shù)字通道與400MHz測試速率，可完整覆蓋AI芯片的I/O接口功能驗證。其512Sites高并行測試架構(gòu)**提升測試吞吐量，降低單顆芯片測試成本，滿足AI服務(wù)器芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求。
國磊GT600可以通過喚醒延遲測試即測量從低功耗模式到激發(fā)狀態(tài)的響應(yīng)時間，適用于可穿戴、IoT芯片。杭州國磊高阻測試系統(tǒng)研發(fā)

國磊GT600高密度集成設(shè)計降低系統(tǒng)體積，適配探針臺有限空間下的模擬晶圓測試（CP）應(yīng)用。杭州國磊SIR測試系統(tǒng)價位

支持復(fù)雜測試向量導(dǎo)入，加速算法驗證閉環(huán) 智能駕駛芯片的**價值在于其內(nèi)置的AI推理引擎能否準(zhǔn)確執(zhí)行感知與決策算法。杭州國磊GT600支持從其他測試平臺導(dǎo)入測試程序與向量，并兼容STDF、CSV、Excel等多種數(shù)據(jù)格式，便于將仿真環(huán)境中的算法測試用例直接轉(zhuǎn)化為ATE（自動測試設(shè)備）可執(zhí)行的測試向量。例如，可在GT600上加載真實道路場景下的圖像識別或目標(biāo)檢測激勵序列，驗證NPU在極限負(fù)載下的響應(yīng)正確性與時延表現(xiàn)，從而構(gòu)建“算法—芯片—測試”一體化驗證閉環(huán)。杭州國磊SIR測試系統(tǒng)價位