“風(fēng)華3號(hào)”**了國產(chǎn)GPU在架構(gòu)創(chuàng)新與生態(tài)兼容上的重大突破，而其成功落地離不開從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的完整驗(yàn)證鏈支撐。國磊GT600測試機(jī)憑借高通道密度、高并行能力（512Sites）、混合信號(hào)支持與開放軟件架構(gòu)，已成為**GPU、AI計(jì)算芯片測試的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它支持GPIB/TTL接口與探針臺(tái)、分選機(jī)聯(lián)動(dòng)，構(gòu)建全自動(dòng)CP/FT測試流程，**提升測試效率與一致性。在國產(chǎn)GPU邁向大模型、**、工業(yè)等**應(yīng)用的進(jìn)程中，國磊GT600測試機(jī)提供從功能、參數(shù)到可靠性的**測試保障，助力中國芯在圖形與計(jì)算領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)自主可控。國磊GT600可選ALPG功能，生成地址/數(shù)據(jù)序列，用于測試集成了EEPROM或配置寄存器的模擬前端（AFE）芯片。杭州國磊SIR測試系統(tǒng)定制

杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司GM8800多通道絕緣電阻導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)是國產(chǎn)**測試裝備邁向國際先進(jìn)水平的重要標(biāo)志。該系統(tǒng)憑借其可擴(kuò)展的256通道架構(gòu)、高達(dá)10^14Ω的電阻檢測上限以及優(yōu)異的測量精度，能夠***滿足IPC、JEDEC等國際標(biāo)準(zhǔn)對(duì)CAF測試的嚴(yán)苛要求。GM8800提供從1V到3000V的寬范圍可編程偏置電壓，內(nèi)置電源精度優(yōu)于±0.05V@100VDC，電壓上升速度快，并允許用戶自定義1~600分鐘的測試間隔和1~9999小時(shí)的測試持續(xù)時(shí)間，完美適配各種加速壽命測試方案。系統(tǒng)集成多參數(shù)同步采集功能，實(shí)時(shí)監(jiān)測電阻、電流、電壓、溫度、濕度等關(guān)鍵數(shù)據(jù)，并通過完全屏蔽的線纜傳輸以確保信號(hào)質(zhì)量，其強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析軟件支持歷史數(shù)據(jù)回溯、趨勢圖表生成及測試報(bào)告導(dǎo)出。在**可靠性方面，GM8800設(shè)計(jì)了多層次報(bào)警保護(hù)系統(tǒng)和UPS斷電續(xù)航選項(xiàng)，應(yīng)對(duì)各種意外情況。相較于英國進(jìn)口的GEN3系統(tǒng)，GM8800不僅在技術(shù)性能上實(shí)現(xiàn)***對(duì)標(biāo)，更在設(shè)備成本、售后技術(shù)支持、軟件界面本地化和功能定制方面展現(xiàn)出強(qiáng)大的競爭力，正助力國內(nèi)集成電路制造、**PCB加工、汽車電子、航空航天等關(guān)鍵領(lǐng)域客戶降低對(duì)進(jìn)口設(shè)備的依賴，實(shí)現(xiàn)供應(yīng)鏈的**與自主可控。杭州國磊導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)定制價(jià)格工藝微縮致亞閾值漏電柵極漏電增加，微小漏電異?？s短電池壽命，GT600快速篩選出“壞芯”，確保量產(chǎn)良率。

國磊GM8800導(dǎo)電陽極絲（CAF）測試系統(tǒng)是一款性能***、功能***的國產(chǎn)**絕緣可靠性測試平臺(tái)。該系統(tǒng)**大支持256個(gè)測試通道，可同時(shí)對(duì)大量樣品或測試點(diǎn)進(jìn)行長期加電監(jiān)測，電阻測量范圍寬廣（10^4~10^14Ω），精度可靠，能夠有效評(píng)估在高溫高濕環(huán)境下電場作用下絕緣材料的離子遷移（CAF）傾向及其絕緣電阻的退化過程。GM8800提供精確可編程的電壓激勵(lì)，內(nèi)置電源范圍0V~±100V，外接偏置電壓高達(dá)3000V，步進(jìn)調(diào)節(jié)精細(xì)，電壓輸出穩(wěn)定且精度高，并具備快速的電壓切換和建立能力。系統(tǒng)測試間隔（1~600分鐘）、測試持續(xù)時(shí)間（1~9999小時(shí)）均可自由設(shè)定，并配備多重**報(bào)警（如低阻、溫濕度超標(biāo)、電壓異常、斷電、軟件故障）和UPS斷電保護(hù)功能，確保無人值守長周期測試的萬無一失。其軟件系統(tǒng)集數(shù)據(jù)采集、實(shí)時(shí)顯示、歷史分析、遠(yuǎn)程控制于一體，操作便捷，洞察深入。與進(jìn)口設(shè)備如英國GEN3相比，GM8800在關(guān)鍵性能參數(shù)上達(dá)到同等水平，同時(shí)擁有更優(yōu)的通道性價(jià)比、更低的維護(hù)成本和更及時(shí)的本土化技術(shù)支持，非常適用于新能源汽車電子、航空航天電子、**消費(fèi)電子、半導(dǎo)體封裝等領(lǐng)域?qū)^緣材料及工藝進(jìn)行苛刻的可靠性驗(yàn)證與篩選，是實(shí)現(xiàn)關(guān)鍵測試設(shè)備國產(chǎn)化替代的戰(zhàn)略性產(chǎn)品。

作為國產(chǎn)**測試裝備的**，GM8800多通道絕緣電阻導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)由杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司自主研發(fā)，具備強(qiáng)大的電化學(xué)遷移（CAF）試驗(yàn)?zāi)芰?。該系統(tǒng)可在8秒內(nèi)完成全部256通道的快速掃描與電阻計(jì)算，支持每15ms完成單通道測試，***監(jiān)控離子遷移過程中電阻值的變化，有效判斷絕緣劣化趨勢。GM8800提供1~600分鐘可調(diào)的測試間隔，測試持續(xù)時(shí)間**長可達(dá)9999小時(shí)，配合UPS斷電保護(hù)（30/60/120分鐘可選），確保長時(shí)間測試的可靠性。其數(shù)據(jù)采集參數(shù)包括采樣時(shí)間、運(yùn)行時(shí)間、電阻、電流、施加電壓、溫度與濕度，用戶可通過功能強(qiáng)大的軟件系統(tǒng)進(jìn)行實(shí)時(shí)分析與遠(yuǎn)程監(jiān)控，實(shí)現(xiàn)電腦與移動(dòng)終端同步操作。與價(jià)格高昂的英國GEN3設(shè)備相比，GM8800在測試效率、系統(tǒng)集成度和本地服務(wù)支持方面具備明顯優(yōu)勢，是中**半導(dǎo)體和電子制造企業(yè)實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量、低成本測試的理想解決方案。國磊GT600SoC測試機(jī)可通過GPIB/TTL接口同步探針臺(tái)與分選機(jī)，實(shí)現(xiàn)HBM集成芯片的CP/FT自動(dòng)化測試流程。

杭州國磊推出的GM8800多通道絕緣電阻測試系統(tǒng)，是踐行“為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展盡綿薄之力”使命的具體體現(xiàn)。該系統(tǒng)具備業(yè)界**的256通道測試能力，電阻測量范圍覆蓋10^4~10^14Ω，測量精度高，能夠精細(xì)表征各類絕緣材料、電子元件、PCB板在直流偏壓和環(huán)境應(yīng)力下的絕緣性能退化行為，特別是對(duì)導(dǎo)電陽極絲（CAF）現(xiàn)象進(jìn)行有效監(jiān)測與預(yù)警。GM8800提供從1.0V到3000V的寬范圍、高精度測試電壓，內(nèi)置電源穩(wěn)定可靠，外接高壓擴(kuò)展方便，電壓控制精度優(yōu)異，上升速度快，且測試電壓穩(wěn)定時(shí)間可調(diào)（1~600秒），為用戶提供了高度靈活的測試條件模擬能力。系統(tǒng)集成實(shí)時(shí)電流檢測和溫濕度監(jiān)控功能，數(shù)據(jù)采集***，并通過完全屏蔽的線纜系統(tǒng)保證測量準(zhǔn)確性。其智能軟件平臺(tái)提供從測試設(shè)置、自動(dòng)執(zhí)行到數(shù)據(jù)分析、報(bào)告生成的全流程服務(wù)，并支持遠(yuǎn)程監(jiān)控。在系統(tǒng)保護(hù)方面，多重報(bào)警機(jī)制和UPS選項(xiàng)確保了長時(shí)間測試的無憂進(jìn)行。相較于進(jìn)口設(shè)備，GM8800在實(shí)現(xiàn)技術(shù)性能對(duì)標(biāo)的同時(shí)，***降低了用戶的購置與運(yùn)維成本，并且能夠提供更快速、更貼身的本地化技術(shù)支持與定制服務(wù)，完美契合國內(nèi)新能源汽車、儲(chǔ)能、通信、**電子等行業(yè)對(duì)**可靠性測試設(shè)備的迫切需求，是推動(dòng)國產(chǎn)化替代戰(zhàn)略落地的堅(jiān)實(shí)力量。國磊GT600通過SMU或Digitizer監(jiān)測目標(biāo)電源域電壓，若在門控關(guān)閉后電壓仍維持非零值，表明電源未真正切斷。杭州絕緣電阻測試系統(tǒng)定制

國磊GT600及GT-AWGLP02板卡THD達(dá)-122dB，SNR110dB，適用于音頻編解碼器、高保真信號(hào)鏈芯片的失真分析。杭州國磊SIR測試系統(tǒng)定制

    AI加速芯片（如思元系列）專為云端推理與邊緣計(jì)算設(shè)計(jì)，**訴求是“高算力密度、***能效比、毫秒級(jí)穩(wěn)定響應(yīng)”。這類芯片往往集成數(shù)千個(gè)AI**與高速互聯(lián)總線，測試復(fù)雜度高、功耗敏感、量產(chǎn)規(guī)模大，傳統(tǒng)測試設(shè)備難以兼顧效率與精度。國磊GT600憑借512站點(diǎn)并行測試能力，可同時(shí)對(duì)512顆芯片進(jìn)行功能與參數(shù)驗(yàn)證，極大縮短測試周期，攤薄單顆芯片成本——這對(duì)動(dòng)輒數(shù)萬片出貨的數(shù)據(jù)中心級(jí)芯片而言，意味著數(shù)千萬級(jí)成本優(yōu)化。在功耗控制上，國磊GT600的PPMU單元可精確測量芯片在待機(jī)、輕載、滿載等多場景下的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)電流，結(jié)合FVMI（強(qiáng)制電壓測電流）模式，驗(yàn)證芯片在不同電壓域下的功耗表現(xiàn)，確保其在7x24小時(shí)運(yùn)行的數(shù)據(jù)中心中實(shí)現(xiàn)“每瓦特算力比較大化”。同時(shí)，其高精度TMU（時(shí)間測量單元，10ps分辨率）可檢測AI**間數(shù)據(jù)同步的時(shí)序抖動(dòng)，避免因時(shí)鐘偏移導(dǎo)致的推理錯(cuò)誤或延遲波動(dòng)，保障AI服務(wù)的穩(wěn)定低時(shí)延。 杭州國磊SIR測試系統(tǒng)定制